GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 5170.1-2008
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng) 】 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則  
【 英文名稱(chēng) 】 Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products General
【 發(fā)布單位 】 國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)總局
【 批準(zhǔn)單位 】 國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)總局
【 發(fā)布日期 】 2008-06-16
【 實(shí)施日期 】 2009-03-01
【 開(kāi)本頁(yè)數(shù) 】 13P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 5170.1-1995
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 2421;idt IEC 60068-1:1988
【 起草單位 】 電子工業(yè)部第五研究所
【 起 草 人 】 伍偉雄、肖建紅、謝晨浩、鄭術(shù)力、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、喬新愚