GB/T 12843-91半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路電

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 12843-91
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路電參數(shù)測(cè)試方法的基本原理
【 英文名稱 】 General principle of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits'parameters for semiconductor integrated circuits
【 發(fā)布單位 】 國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【 批準(zhǔn)單位 】 國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【 發(fā)布日期 】 1991-4-28
【 實(shí)施日期 】 1991-12-1
【英文關(guān)鍵詞】 Circuits; Semiconductor devices; Integrated circuits; Microprocessors; Interfaces (data processing); Computer peripheral equipment; Measurement; Standardized parameters; Testing
【 所屬標(biāo)準(zhǔn) 】 GB
【 開本頁(yè)數(shù) 】 13P
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 SJ/Z 9015.2(IEC 748-2)
【 起草單位 】 機(jī)械電子工業(yè)部北京機(jī)械工業(yè)自動(dòng)化研究所; 電子標(biāo)準(zhǔn)化研究所
【 起 草 人 】 徐永康; 高喆; 張宏圖