GB 2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)....

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB 2423.1-1989
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法  
【 英文名稱 】 Basic environmental testing procedures for electric and electronic products Tests A:Cold
【 批準(zhǔn)單位 】 中華人民共和國機(jī)械電子工業(yè)部
【 發(fā)布日期 】 1989-2-28
【 實(shí)施日期 】 1990-1-1
【 開本頁數(shù) 】 10P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 2423.1-1981
【 采用關(guān)系 】 EQV IEC 68-2-1《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:寒冷》
【 起草單位 】 廣州電器科學(xué)研究所
【 起 草 人 】 徐國葆; 李志清; 祝耀昌; 馬秀翠; 袁順才