GB/T 15651.3-2003半導體分立器件和集成電路第5-3部分

【 標準編號 】 GB/T 15651.3-2003
【 標準名稱 】 半導體分立器件和集成電路第5-3部分:光電子器件測試方法  
【 英文名稱 】 Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3Optoelectronic devices—Measuring methods
【 發布單位 】 國家質量監督檢驗檢疫總局
【 發布日期 】 2003-11-24
【 實施日期 】 2004-8-1
【 開本頁數 】 24P
【 引用標準 】 GB/T 2421-1999; IEC 60270:1981
【 采用關系 】 IDT IEC 60747-5-3:1997
【 起草單位 】 華禹光谷股份有限公司半導體廠
【 起 草 人 】 陳蘭; 那仁; 王守華