GB/T 2424.19-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)?zāi)M貯存影響的環(huán)境

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 2424.19-2005
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)?zāi)M貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則  
【 英文名稱 】 Environment tests for electric and electronic products-Guidance on the application of the environmental test to simulate the effects of storage
【 發(fā)布單位 】 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局; 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
【 發(fā)布日期 】 2005-3-3
【 實(shí)施日期 】 2005-8-1
【 開本頁(yè)數(shù) 】 5P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 2424.19-1984
【 采用關(guān)系 】 IDT IEC 60068-2-48:1982
【 起草單位 】 廣州電器科學(xué)研究院
【 起 草 人 】 張志勇