SJ/T 11210-1999石英晶體元件參數(shù)的測(cè)量 第4部分

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 SJ/T 11210-1999
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 石英晶體元件參數(shù)的測(cè)量 第4部分:頻率達(dá)30MHz石英晶體元件負(fù)載諧振頻率f(L)和負(fù)載諧振電阻R(L)的測(cè)量方法及其他導(dǎo)出參數(shù)的計(jì)量  
【 英文名稱 】 Measurement of quartz crystal unit parameters Part 4:Method for the measurement of the load resonance frequency f(L),load resonance resistance R(L) and the calculation of other derived values of quartz crystal units,up to 30 MHz
【 發(fā)布單位 】 中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部
【 發(fā)布日期 】 1999-8-26
【 實(shí)施日期 】 1999-12-1
【 開(kāi)本頁(yè)數(shù) 】 15P
【 采用關(guān)系 】 IDT IEC 444-4:1998
【 起草單位 】 國(guó)營(yíng)北京晨星無(wú)線電器材廠
【 起 草 人 】 章怡; 宋佩鈺; 鄧鶴松; 邊一林