GB/T 2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 2423.16-1999
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則: 長霉 
【 英文名稱 】 Environmental testing for electric and electronic products— Part 2: Tests--Test J and guidance: Mould growth
【 發(fā)布單位 】 SBTS
【 批準(zhǔn)單位 】 國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
【 發(fā)布日期 】 1999-9-13
【 實(shí)施日期 】 2000-6-1
【中文關(guān)鍵詞】 產(chǎn)品試驗(yàn)　電氣設(shè)備　電子設(shè)備及元件　環(huán)境試驗(yàn)　長霉　
【英文關(guān)鍵詞】 PRODUCT TESTS; ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS; ELECTRIALS; ELECTRICAL EQUIPMENT; ELECTRIC EQUIPMENT; ENVIRONMENTAL TESTING; ENVIRONMENTAL TESTS; ELECTRICAL APPLIANCES
【 所屬標(biāo)準(zhǔn) 】 GB
【 開本頁數(shù) 】 16P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 2423.16-1990; GB/T 2424.9-1990
【 采用關(guān)系 】 IEC 68-2-10-1988,IDT
【 起草單位 】 電子工業(yè)部第五研究所