關(guān)于光度計雜散光檢定與vandyke說

vandyke：如果真是象abdong說的那樣：“雜散光形成挺復雜的。在360 nm處沒雜散光不代表420處沒有，因為里面的濾光片組切換會將不同波段的光濾掉。”我也覺得有些道理，最起碼是光柵型的在改變波長時，有可能存在濾光片組切換；好象棱鏡的不存在該問題。那么作為我們的規(guī)程：對于光柵的，只檢360納米處的雜散光就是不對的！你說呢？

規(guī)程從始至終對于雜散光的測量都語焉不詳，并且自相矛盾。
它說對于A段，用亞硝酸鈉或截止濾光片于360nm處（鎢燈）測量。這與它對波長分段的定義（A段為190nm~340nm）相矛盾。
它又說B段棱鏡式儀器用截止濾光片再420nm出測量，卻不說B段光柵型儀器用什么方法測量。了解舊規(guī)程的人都知道光柵在360nm出測量，新入行的人怎么會知道？況且規(guī)程還說360處的雜散光測的是A段的。讓人莫名其妙。
雜散光的測量有時間在討論

2# vandyke
謝謝回復！請你看一下《中國計量》剛出版的第十一期朱琳等的《影響分光光度計測量準確度的原因》！雖然文章條理不是很清楚，但文中提到的如下兩問題很希你賜教！
1、“例如：751型分光光度計，……，當狹縫寬度增大時存在一些像差，……”。其中“像差”是怎樣一種誤差？
2、“透射比是分光光度計的一項綜合技術(shù)指標，……及入射光的偏振狀態(tài)等也都會引起透射比的隨機變化，……”。其中“入射光的偏振狀態(tài)”由何而來？又是怎樣引起透射比變化的？

像差是指實際光學系統(tǒng)與理想（近軸）光學系統(tǒng)所成的像之間的偏離。一般都是指透鏡系統(tǒng)。像差分為單色像差和色（像）差。單色像差又分為：球差、彗差、像散、場曲和畸變。色差又分為：位置色差和倍率色差。狹縫其實是一個光闌，能限制光束孔徑和成像范圍，光闌適當縮小時，能阻擋雜散光和其他對成像不利的光線（如與透鏡主軸成角太大的光線），這樣就能改善成像質(zhì)量。因此，狹縫并非單獨影響像差，而是配合了分光光度計中的透鏡系統(tǒng)，起到改善光譜成像的作用。其實歸根結(jié)底，我覺得即使不用成像的理論，也可以用雜散光來代替像差解釋，因為各種像差都可以當做雜散光來看待。

vandyke ：
      我前天有幸電話聯(lián)系到了葉軍安老師，得到了葉老師的指教：像差，差不多是光譜帶寬的另一種說法。狹縫越寬，光譜帶寬越寬，自然光的單色性就越差，也稱為像差。
      而偏振狀態(tài)問題，畢竟更復雜，電話里也不好表達，葉老師當時在電話中也沒怎么說。如葉老師會給我進一步的指導，我會及時轉(zhuǎn)達給你的。
      我從方國銘、胡國成老師編著的《光電比色計和分光光度計》上找到兩波長不同的簡單復合光，偏離朗伯—比耳定律的介紹，還有網(wǎng)上找到了《光入射界面時反射光和入射光的偏振態(tài)》一文（可惜不是很清楚），不知這些對我們的光學專家有用嗎?
      盼光學專家的發(fā)現(xiàn)！

再回到雜散光的討論中。
雜散光，準確的說叫雜散輻射能量，有以下幾種定義：
1、到達檢測器的波長與所規(guī)定的光譜位置不相符的所有光譜輻射。——ASTM E131-02（我看到的只有這份被替代的標準，沒有05版，姑且使用）
2、Richard認為：假輻射（Spurious Radiation）與所需要的輻射（Desired Radiation）之比。
3、M.R.Sharps認為：光譜帶寬以外“不要的”光通量成分。
4、M.Winstead認為：如果波長出現(xiàn)與儀器波長示值不同，那么這個外界的能量就是雜散輻射。
5、李昌厚從物理概念和實際測量（國際上常用的截止濾光法）出發(fā)，定義為：截止濾光片或溶液的截止點（一般透射比不為0，國際上通常取10^-4）以外的某處放上截止濾光材料的透射輻射能量與該處去掉截止濾光材料后，換上參比材料的總的透射能量之比。

可見，雜散輻射一般都涉及輻射光譜的不純問題，也即單色光的純度問題。但對于我們使用者，我覺得適當擴展一下雜散輻射的含義，將之包含諸如單色像差（非復合光引起的問題）、漏光、光學器件的漫反射和衍射等“雜光”，可以更好的讓我們重視儀器機械、光學性能的問題。

補充一點：NIST的SP260-116定義的雜散輻射分為兩種。
（1）分光光度計產(chǎn)生的雜散輻射：與特定波長下名義光譜帶寬所透過的光譜輻射不相同的那部分輻射。這種雜散輻射稱為復合光（heterochromatic）雜散輻射。這一點與ASTM定義類似。
（2）樣品槽產(chǎn)生的雜散輻射：未經(jīng)過樣品吸收而直接進入光電檢測器的輻射通量。這種雜散輻射稱為單色光（isochomatic）雜散輻射。這一點不是由于光譜純度引起的，而是由于光學系統(tǒng)的表面、樣品槽等對入射光的反射、衍射等原因引起的。

NIST因此還專門開發(fā)了專門測量這兩種雜散輻射的標準物質(zhì)。前一種是SRM2032后一種是SRM2033。有興趣的可以看看SP260-116。
下載地址：http://ts.nist.gov/MeasurementSe ... pload/SP260-116.pdf

vandyke ：你知識面真寬，層次很高哦！還外文網(wǎng)站，讓我傻了眼！