請教透射比肓樣為計算重復性的測量方法

各位同行：
     你們好！
     同樣為迎戰分光光度計比對，還要請教各位同行：比對要求用普析的TU-1901測量透射比肓樣，并要求報告測量結果不確定度，且要敘述測量方法，所以就什么都逃不過主考老師的法眼?，F在讓我為難的是在用光度測量模式下測量時，是應該校一次零之后重復測量7次，給出7 個示值去算標準偏差；還是應該校一次零測得一個示值、又校一次零測得一個示值，這樣重復測得7 個示值去算標準偏差？按前者我擔心示值會一點變化都沒有，而沒有測出重復性；按后者我又擔心每次都經過了校零，會不會測算成復現性去了？認真起來，真不知如何是好？

普析的儀器做了暗電流掃描和零點調整后，應該影響不是太大吧，用普析的儀器主要的不確定度分量應該來自標準濾光片！個人見解！

根據個人經驗，如果標準偏差為零，則考察儀器分辨率帶來的影響！

2# czjlwsl
雖然不是主要不確定度分量，甚至是很小，但還是得測算該不確定度分量。因為主考老師目的在于檢查我們會不會算。

3# amanda209
在已按正確的測算方法測算的情況下，該測得的示值真的無變化或變化較小的情況下，當然是應該按據分辨力對重復性的影響。但現在問題的關鍵在于，我應該怎樣測算才是正確地測得了由于測量列引入的重復性。

特別是還有：我們同樣針對普析TU-1901，為了測量其波長示值誤差，同樣是要報告測量結果不確定度。我們應該是校正一次基線后，置入氧化鈥玻璃做一次光譜掃描，這樣重復7次，得到7組數據去評定測量不確定度呢？還是校正一次基線后，置入氧化鈥玻璃連續7次光譜掃描，得到7組數據去評定測量不確定度呢？或還是校正一次基線后，置入氧化鈥玻璃，做7次單次光譜掃描，得到7組數據去評定測量不確定度呢？在這里，我們做過該檢測的同行都知道：因為掃描間距為0.1nm，即便是僅從650nm掃至250nm，且即便是用快速，掃描一次的時長，也要大于我們規程規定的做噪聲的時長2nim，做7次這樣的掃描又與我們規程規定的做漂移的時長30nim相差無幾。這樣的時長關系的情況下，更讓我不知如何做才是對的？

如果要考察透射比測量的不確定度，可參考新的濾光片檢定規程。做法嘛，后面調一次做一次的做法比較合適。

個人認為，做透射比重復性不用每次都調零的，因為現在大部分的儀器用黑體調零后，零位幾乎是不變的。對于這種能夠自動校零的自動掃描儀器而言，我在平時的工作中注意過，零位一般都是不變的。

零位在大多時候是不會變的，特別是在可見光區，噪聲和漂移都比較少，但是調滿就要隔一段時間調一次或調波長就一定要調整。一般我做呢，剛開始做調好了，做的過程是不調零也不調滿。但是就會中間讓機子測一次100
%，確認100%的漂移。這樣做可以保證結果的正確。也是一種比每次都調整省時間的方法。正規做法是要調整的。只是經驗告訴我們不調整對一般儀器做出來的結果沒影響而已。

8# 喬浩
言這有理!我剛參加比對回來，實際操作使我認識到了不應每次校零，否則儀器的重復測量方式就沒有意義了！