目前的規程不刻意區分光柵還是棱鏡分光，只是針對紫外或可見波長進行檢定。按照規程起草人的意思，對于光柵儀器，360nm和420nm都需要檢雜散光，對于紫外儀器，220、360、420都要檢雜散光。

vandyke 發表于 2011-10-18 19:44

我并不是說雜散光的檢定要區分光柵還是棱鏡的分光光度計，只是在討論雜散光的產生時，由于光柵型和棱鏡型分光光度計結構很不同，所以要分別提到。其實我原文的本意主要是對于可分光光度計僅在360nm或420nm檢定雜散光；對于紫外（含可見）分光光度計僅在220nm和360nm（或420nm）檢定雜散光是不夠的，是很不充分的！我一直在這樣做，希望對該問題感興趣的同行也這樣做：對于光柵的分光光度計不僅在360nm檢定雜散光，而且在420nm處也檢定雜散光，你就能得出同樣的結論。對于棱鏡的分光光度計，我并不是不想這樣去驗證，只是因為棱鏡的分光光度計在360nm沒有光，而我們又沒有波長更高于420nm的截止濾光片。

經過認真細致的思考,使我終于認識到:雖然消除次級重疊現象濾光片上的灰塵和霉點不是雜散光的誘因。但是，不管是棱鏡還是光柵，其同一制造不良狀態，在不同角度時（即分光光度計給出不同波長時）造成的雜散光，完全有可能不同；就是同一的表面積塵和有霉點的狀態，在棱鏡或光柵處不同的角度時，造成的雜散光，也完全有可能不同；特別是由于單色器內光的非人為的反射和散射更是有可能由于棱鏡或光柵處不同的角度時，造成的雜散光不同。總之，分光光度計不同波長時，雜散光完全有可能是不同。所以對于可分光光度計僅在360nm或420nm檢定雜散光；對于紫外（含可見）分光光度計僅在220nm和360nm（或420nm）檢定雜散光是不夠的，是很不充分的！

目前的規程不刻意區分光柵還是棱鏡分光，只是針對紫外或可見波長進行檢定。按照規程起草人的意思，對于光柵儀器，360nm和420nm都需要檢雜散光，對于紫外儀器，220、360、420都要檢雜散光。