千分尺平行度的檢定及故障分析和修理

千分尺平行度的檢定及故障分析和修理

太需要了，最近一直磨不好千分尺了

論文說“測量上限大于150毫米的千分尺，用平行平晶、量塊組合檢定效率低、準確度不高，故應用專用檢具”請問各位專家：為什么準確度不高？

回復 3# 老是

　　JJG21-2008的6.3.13條規定：“測量上限至100mm千分尺兩測量面的平行度用4塊厚度差1/4測微螺桿螺距的平行平晶檢定。也可用量塊檢定，……測量上限大于100mm千分尺兩測量面的平行度用圖10鋼球檢具檢定。”
　　可見論文作者提出測量上限大于150毫米的千分尺兩測量面平行度不要用平行平晶、量塊組合檢定，而要用專用檢具檢定，檢定規程的這一條就是他的根據。
　　我國平行平晶的規格有Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ四個系列，長度分別為15mm、40mm、65mm、90mm，平行度允差分別是0.6μm、0.6μm、0.8μm、1.0μm。
　　由此可見使用平行平晶檢定測量上限大于100mm的千分尺平行度，必須使用兩個系列以上的平行平晶進行組合。組合時，兩個（或兩個以上）平行平晶各自的平行度勢必共同對千分尺平行度檢測結果產生影響，這是其一。
　　第二，平行平晶直徑小而長度長，重量相對較重，且平晶檢定規程對其研合性并無要求，當兩個（或兩個以上）平行平晶研合時研合力很難保證，研合效果并不穩固。用研合并不穩固的平行平晶檢定千分尺平行性，平行平晶研合面之間極易產生分離間隙，嚴重影響平行性檢測結果。
　　所以，論文作者說用平行平晶組合檢定千分尺兩工作面平行性“效率低、準確度不高”是有道理的。

回復 4# 規矩灣錦苑


    嗨，高人吶！

“測量上限大于150毫米的千分尺，用平行平晶、量塊組合檢定。”可行嗎？可操作嗎？準確度高嗎？

太需要了，最近一直磨不好千分尺了

i學習一下，謝謝

大于150，千分尺兩個側貼距離長，按照規程要求，其平行度的要求也在降低，如果在500以下，是可以用量塊來檢測的，超過500使用專用量具檢測。

非常實用，有個問題請教一下，在用量塊檢定平行度時，所用量塊尺寸小數部分相差0.125mm，整數部分是不是要相同，例如5.12  5.24    5.36   5.00。這樣是不是更合理。

回復 10# xuxinhaoxue


   個人認為，采用不同的整數值目的和卡尺檢驗的 41.2  81.5  121.8  選點類似的道理，一兩個螺距內平行度好并不代表整個行程的也好，采用有效行程內均勻分布的更能體現整體存在的問題。量面平行度的實際使用需求應該是全行程內的，而不是某個部位的。   不過話又說回來，大測量范圍的千分尺其實應該淘汰掉才對的，完全應該使用坐標測量機來進行測量。當然我國現實情況，那個無可奈何啊。
   我們是搞量具生產的，這個問題其實很清楚，規程/標準制定希望達到的目的，與現實生產中量具實際使用的情況是有很大出入的。包括理論不確定度與實際不確定度之間的差異簡直是太大了。真正的大測量范圍千分尺使用者使用時，都會注意千分尺的擺放方式嗎？不正確的把持千分尺/支撐千分尺，會導致千分尺弓形架完全，量面平行度會完全破壞。
   檢驗過大于300mm測量范圍的千分尺，都會有這樣的經歷：同樣一個量塊，要測量N次后你才能確定千分尺的誤差——而實際上不同的人檢得出的誤差又是不完全一樣的。但實際使用的時候，被測量往往不是整數而且還有可能是個未知數值，這樣你就更加不可確認N次測量的結果里面哪個才是正確的，雖然用誤差分析可以更高概率選出可靠的結果，不過效率與可信度的確太讓人不放心。
   所以現實中工人使用150mm的卡尺，檢測目標的允許誤差要至少大于0.05mm才能放心使用，而0-25mm的千分尺（特別是機械千分尺），目標允許誤差要大于0.004mm才可信任千分尺的檢測結果。
   反觀我國的小量具規程與標準，其實有很多不合理的地方，當然這十多年一直在不斷修改，只是有些改得更好了，有些改得更差了。例如卡尺量面平面度的要求，以前老標準還要平晶檢測光帶，事實上用卡尺測量的不確定度來看，量面是否上光帶完全沒有必要，這個現在修改掉了，是對的。但是也有標準制定越來越放松的方面，這個就不說了，影響不好。

我下載完了，看不到，說是解壓失敗。

我們計量室連平面平晶都沒有，無法檢定學習，而且我們計量室外徑千分尺這塊使用基本都是拿來對內徑百分表，很少用來直接測量物體。很想學習下，但又沒這個條件。

學習了，各行都有高手啊

我目前見過最大的千分尺是3m的

規矩灣錦苑 發表于 2013-5-1 22:38
回復 3# 老是

　　JJG21-2008的6.3.13條規定：“測量上限至100mm千分尺兩測量面的平行度用4塊厚度差1/4測 ...

您說數顯外徑千分尺兩測量面的平行度適宜用平行平晶檢定么？平行平晶Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ四個系列的平行度允差分別是0.6μm、0.6μm、0.8μm、1.0μm，外徑千分尺測量面的平行度允許值對應的分別是2μm、2μm、3μm、3μm，沒有問題。但數顯外徑千分尺測量面的平行度允許值對應的分別是1.5μm、1.5μm、2μm、2μm，還能滿足測量要求么？還是用量塊更適宜些？

長度室 發表于 2015-1-19 09:32
您說數顯外徑千分尺兩測量面的平行度適宜用平行平晶檢定么？平行平晶Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ四個系列的平行度允差 ...

　　國家尚無平行度量值溯源系統或檢定系統，形位誤差中只有平面度計量器具檢定系統，參照這個檢定系統圖可以看出，上下級的量傳允差比例要求基本上為2：1，現在1.5μm、1.5μm、2μm、2μm分別與0.6μm、0.6μm、0.8μm、1.0μm的比均≥2：1，這種檢測方法應該是滿足測量要求的。當然，你說用量塊檢也是可以的，雖然量塊的平行度允差會比平行平晶更小，但這種檢定方法的平行度誤差需要在千分尺上讀出，千分尺的分辨力引入的不確定度分量也需要合成進去，合成后的不確定度也還是與平行平晶檢測方法差不多。

規矩灣錦苑 發表于 2015-1-19 11:55
　　國家尚無平行度量值溯源系統或檢定系統，形位誤差中只有平面度計量器具檢定系統，參照這個檢定系統圖 ...

有道理，謝謝！

xuxinhaoxue 發表于 2013-6-14 18:17
非常實用，有個問題請教一下，在用量塊檢定平行度時，所用量塊尺寸小數部分相差0.125mm，整數部分是不是要 ...

老師我看規程也是這么理解，您最后得到論證了嗎？這樣是對的嗎？