GB/T 19403.1-2003 半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分：第1篇

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 19403.1-2003
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分：第1篇：半導(dǎo)體集成電路 內(nèi)部目檢 （不包括混合電路）  
【 英文名稱 】 Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
【 發(fā)布單位 】 國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
【 發(fā)布日期 】 2003-11-24
【 實(shí)施日期 】 2004-8-1
【 開本頁(yè)數(shù) 】 22P
【 采用關(guān)系 】 IDT IEC 60748-11-1:1992
【 起草單位 】 信息產(chǎn)業(yè)部第四研究所
【 起 草 人 】 魏華; 王靜