DL/T 626-2005 劣化盤(pán)形懸式絕緣子檢測(cè)規(guī)程

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 DL/T 626-2005
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng) 】 劣化盤(pán)形懸式絕緣子檢測(cè)規(guī)程  
【 英文名稱(chēng) 】 Code of aging cap and pin insulators inspection
【 發(fā)布單位 】 中華人民共和國(guó)國(guó)家發(fā)展和改革委員會(huì)
【 發(fā)布日期 】 2005-2-14
【 實(shí)施日期 】 2005-6-1
【 開(kāi)本頁(yè)數(shù) 】 11P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 DL/T 626-1997
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 772; GB/T 1001.1; GB/T 2900.5; GB/T 2900.8; GB 50150; JB/T 9678; DL/T 596; DL/T 481.2000
【 起草單位 】 武漢高壓研究所; 華東電網(wǎng)有限公司; 浙江省電力公司; 湖北省超高壓局; 金華電業(yè)局; 大連電瓷廠(chǎng); 法國(guó)自貢賽迪維爾公司; 唐山NGK電瓷有限公司
【 起 草 人 】 吳光亞; 錢(qián)之銀; 蔡煒; 包建強(qiáng); 舒先民; 應(yīng)偉國(guó); 王鑌; 何勇; 董剛