平晶操作程序

平晶操作程序

1.目的：查明和確認(rèn)平晶的技術(shù)狀態(tài)是否符合國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程的規(guī)定要求。
2.適用范圍：適用于開展對(duì)平面平晶、平行平晶的檢定。
3.依據(jù)文件：JJG28-2000，平晶檢定規(guī)程。
4.檢定所使用的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)：2等標(biāo)準(zhǔn)平晶。其中主要檢定工具包括光學(xué)計(jì)、測(cè)長(zhǎng)機(jī)、平面等厚干涉儀。
5.檢定時(shí)的環(huán)境要求：溫度20±5℃和濕度不大于80%RH（平面平晶）、溫度20±3℃和濕度不大于80%RH（平行平晶）的檢定室內(nèi)進(jìn)行。
6.檢定前的準(zhǔn)備工作：
6.1查看標(biāo)準(zhǔn)器及主要配套設(shè)備管理標(biāo)志（合格證）是否在有效期內(nèi)，如不在有效期內(nèi)則一律不準(zhǔn)使用，應(yīng)及時(shí)與技術(shù)科聯(lián)系，查明原因。
6.2查看檢定室內(nèi)溫度、濕度是否滿足檢定規(guī)程的要求，如不滿足，應(yīng)使用空調(diào)器調(diào)節(jié)檢定地點(diǎn)溫度，使其滿足要求。
6.3用干凈白布將被檢平晶表面擦凈。
6.4被檢平晶放置在檢定室內(nèi)，等溫的時(shí)間應(yīng)不少于10h。
6.5準(zhǔn)備好檢定工具，原始記錄表格（原始記錄表格樣式見附錄）。
7檢定步驟：
7.1外觀及表面質(zhì)量：
根據(jù)規(guī)程要求，借助放大鏡目力觀察。
7.2外形尺寸：
平行平晶中心長(zhǎng)度尺寸用測(cè)長(zhǎng)機(jī)直接檢定。其他外形尺寸用游標(biāo)卡尺進(jìn)行檢定。
7.3兩端面夾角：
平面平晶兩端面夾角用1級(jí)百分表檢定。
7.4工作面與母線垂直度：
用分度值不大于5′角度規(guī)進(jìn)行檢定。
7.5非工作面平面度：
平面平晶采用不小于被檢平面平晶直徑的2級(jí)平晶檢定。
7.6兩工作面的平行度：
用光學(xué)計(jì)進(jìn)行檢定。
7.7工作面的平面度：
用平面等厚干涉儀與2等標(biāo)準(zhǔn)平晶比較檢定。
8.檢定結(jié)果的處理：
經(jīng)檢定符合本規(guī)程要求的平晶，出具檢定證書。不符合本規(guī)程要求的平晶發(fā)檢定不合格通知書，并注明不合格項(xiàng)目。
9.檢定周期：
工作平晶根據(jù)使用情況確定檢定周期，最長(zhǎng)不超過一年。
10．檢定操作結(jié)束的處理：
10.1將標(biāo)準(zhǔn)放入盒內(nèi)，其他配套設(shè)備放歸原存放處。
10.2填寫《計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器使用記錄》。
10.3清理工作場(chǎng)所。
10.4平晶的檢定周期為一年，必要時(shí)，根據(jù)實(shí)際情況可提前檢定。
10.5原始記錄的填寫執(zhí)行程序文件《原始記錄和數(shù)據(jù)處理程序》
10.6檢定證書或檢定結(jié)果通知書的填寫執(zhí)行程序文件《結(jié)果報(bào)告程序》
附錄《平晶檢定記錄表》

回復(fù) 1# duomeiti


    LZ上傳的平晶檢定操作程序，作為應(yīng)付檢查的文件，單講格式應(yīng)該還是可以的，估計(jì)一般檢查人員也提不出什么異議，但作為嚴(yán)格的技術(shù)文件在某些方面應(yīng)該是有缺陷的，當(dāng)然這也與規(guī)程的某些規(guī)定有關(guān)：
    比如講操作程序5.規(guī)定的檢定時(shí)的環(huán)境要求“溫度20±5℃和濕度不大于80%RH（平面平晶）、溫度20±3℃和濕度不大于80%RH（平行平晶）的檢定室內(nèi)進(jìn)行”，上述文字描述應(yīng)該講是照搬規(guī)程的內(nèi)容，檢定室內(nèi)的溫度為“20±5℃或20±3℃”，雖然感覺檢定室內(nèi)的溫度有些偏高，但講不出什么異議，畢竟我們沒有做過這方面的試驗(yàn)；但“濕度不大于80%RH”應(yīng)該不妥的，因?yàn)殚L(zhǎng)度實(shí)驗(yàn)室的相對(duì)濕度如果達(dá)到80％，作為相當(dāng)多的積光、機(jī)、電一體的幾何量計(jì)量?jī)x器會(huì)出問題的，所以個(gè)人認(rèn)為平晶檢定操作程序和規(guī)程對(duì)檢定時(shí)的環(huán)境要求規(guī)定是欠妥的。
    我們知道，平晶檢定裝置標(biāo)準(zhǔn)在一般單位或部門，包括許多省級(jí)法定計(jì)量技術(shù)機(jī)構(gòu)，應(yīng)該是平面度量傳的最高計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)。由于被檢平晶的材質(zhì)是光學(xué)玻璃，其導(dǎo)熱性能比較差，為了防止被檢平晶由于溫度梯度的存在影響平面度的檢定，所以規(guī)程JJG28-2000對(duì)被檢平晶的等溫要求是相當(dāng)嚴(yán)格的，并在規(guī)程的表8、表9中給出了明確的要求：比如講被檢平晶在實(shí)驗(yàn)室的等溫時(shí)間根據(jù)其規(guī)格或用途不同，等溫時(shí)間為（10～35）h；被檢平晶在儀器內(nèi)等溫時(shí)間為（0.5～2）h；被檢平晶在儀器內(nèi)24h溫度變化為（1～2.5）h；被檢平晶在儀器內(nèi)每1h溫度變化為（0.1～0.5）h，由這些嚴(yán)格的要求可以看出，實(shí)際上，許多靠家用空調(diào)控制溫度的單位、部門的實(shí)驗(yàn)室是無法或很難保證上述檢定時(shí)環(huán)境溫度要求的。非常遺憾，上述這些在操作程序中均沒有涉及，所以應(yīng)該講操作程序是不夠完整的，當(dāng)然還是前面講過的東西，在規(guī)程規(guī)定的環(huán)境要求合理性得以確認(rèn)前，責(zé)任不完全在LZ。
   還沒有看到平晶新修改編制的規(guī)程，或許新的規(guī)程在經(jīng)大量環(huán)境溫度、濕度試驗(yàn)后，會(huì)對(duì)檢定時(shí)的環(huán)境要求有所改動(dòng)。那時(shí)，單位或部門的操作程序會(huì)根據(jù)新規(guī)程做相應(yīng)的較完整的改動(dòng)，這也是檢定工作的需要。

用平面平晶檢定外徑千分尺時(shí)，如何看到光波啊？

很好。
學(xué)習(xí)學(xué)習(xí)
貌似稍顯得簡(jiǎn)單，還可以再豐富點(diǎn)。