低頻電連接器檢測方法研究

作　　者：劉趙云[1] 戴菲
機構(gòu)地區(qū)：[1]海軍駐三院軍事代表室,北京100074 [2]北京特種機械研究所,北京100143
摘　　要：本文主要闡述了低頻電連接器外觀檢測和電性能測試中的接觸電阻、絕緣電阻和介質(zhì)耐電壓的檢測方法及其注意事項，提出為滿足武器系統(tǒng)對低頻電連接器耐惡劣環(huán)境、高可靠的特殊需求，有效保證武器型號系統(tǒng)中電連接器的質(zhì)量，必須規(guī)范低頻電連接器外觀及電性能指標檢測標準。本文可為從事低頻電連接器檢測工作的人員提供參考。