請教：用平面平晶檢千分尺的平面度，怎么判斷是否合格？

如干涉條紋平直，相互平行,且分布均勻,則表示被測表面的平面度很好；如干涉條紋彎曲，則表示平面度不好。其誤差值為f= (v/ω)×(λ/2)

1. 因為實際操作的時候，也不方便測v及ω，那么怎么能得到誤差值呢？

2. 平晶放在測量面上時，是緊貼好，還是有點傾斜的好，我操作起來，是一會有條紋，一會沒有，條紋也是一會多、窄，一會少、寬?？傆X得操作上不得要領。應該怎么操作是正確的呢？？在什么現(xiàn)象認為條紋可以應用呢？？

回復 17# ydq


    你的意思是長度單位了，謝謝！

回復 1# 藍豬


    1.  精確計量應該用單色光照明，并測量條紋參數(shù)；
    2.  應該是貼緊、平行為好！

回復 2# 星空漫步
條紋參數(shù)怎么測得呢？？

用平面平晶測量千分尺測量面的平面度，目測即可。干涉條紋的彎曲度與條紋間距的比值是可以估讀出來的，目測不能讀出精確的值，是一個大概的值。觀測時要調整平晶與千分尺工作面的位置，盡量使干涉條紋條數(shù)少，以利于讀數(shù)。

如果不把測砧拆下來，還真是只能目測個大概值。

還是要學習，很多東西都沒看懂!

知道了，謝謝前輩們。

感覺樓主和我剛剛用平晶是一樣滴 當時我?guī)煾到o我找了一塊廢量塊 讓我反復在平晶上面研和 慢慢的就能研出穩(wěn)定的干涉條紋了 還是要多練習
那個條紋我們一般是用眼睛估計一下的

注意事項：
1.被測表面和平晶工作面要嚴格擦拭干凈；
2.以單色光最好，日常測量中用自然光也可以。單色光干涉條紋是黑白相間，自然光干涉條紋是彩色的；
3.測量時，平晶工作面靠近被測表面某條邊，逐漸向對邊方向壓下貼攏，注意干涉帶條文變化，平晶上以出現(xiàn)3條干涉帶時讀數(shù)為佳；
4.干涉帶中間遠離一開始平晶與被測表面接觸的邊線，被測表面呈中間凸，反之被測表面中間凹；
5.憑眼力估讀V和W，按計算公式計算被測表面平面度誤差大小，出現(xiàn)完整的干涉環(huán)，應該數(shù)干涉環(huán)的環(huán)數(shù)，V/W以環(huán)數(shù)代入公式計算平面度誤差。

用平面平晶測量千分尺測量面的平面度，目測即可。干涉條紋的彎曲度與條紋間距的比值是可以估讀出來的，目測不能讀出精確的值，是一個大概的值。觀測時要調整平晶與千分尺工作面的位置，盡量使干涉條紋條數(shù)少，以利于讀數(shù)

用平晶以技術光波干涉法檢定測量面平面度時，出現(xiàn)的干涉條紋，其干涉原理是等厚干涉。干涉條紋的形狀一般有直線、圓形和弧形三種。直線形干涉條紋或沒有條紋說明被檢工作面非常平整。圓形干涉條紋說明被檢工作面為球面，中凸或中凹點在工作面的中心，判斷凹凸的方法是用手輕壓平晶中央，如干涉條紋向內跑即為中凹，向外跑即為中凸。平面誤差按干涉條紋的圈數(shù)n乘以半個光波波長λ/2計算。一般白光λ為0.6um。如圓形干涉條紋最外圈是對稱的半圓形，則兩條對稱半圓形條紋按一圈計算。如只有一條不對稱的半圓形條紋，也按一圈計算。如干涉條紋為平行的弧形條紋，則按通常的方法，取條紋彎曲量a與條紋間隔b的比值再乘以λ/2作為平面度誤差值。判斷平面的凹凸情況的方法為：將平晶先與測砧（zhen）邊緣接觸，再慢慢與平面貼合，如干涉條紋遠離接觸點的方向彎曲（條紋中間離接觸點比兩端遠），則為凸面，相反為凹面。

如干涉條紋平直，相互平行,且分布均勻,則表示被測表面的平面度很好,此時想知道平面度誤差是多少呢?如我檢測千分尺平面度有10條以上的均勻平直的干涉條紋,此時記錄平面度誤差是0還是其它數(shù)值?

回復 12# hblgs2004

　　檢測千分尺平面度有10條以上的均勻平直的干涉條紋時，因為干涉條紋過多不利于肉眼的分辨，輕微的干涉條紋彎曲無法識別。此時應調整平晶與被檢工作面的接觸狀態(tài)，減少干涉條紋數(shù)量，以出現(xiàn)3條左右干涉條紋時估讀條紋彎曲量與條紋間距的比值為最佳，如果仍然表現(xiàn)為干涉條紋呈相互平行的直線，就應該判定被檢工作面平面度誤差為0。

回復 1# 藍豬


    1.  用光波干涉法測平面度時，必須估讀你談及的v及ω（v為干涉帶彎曲量，ω為干涉帶間的間距），否則你無法代入你談及的計算公式f= (v/ω)×(λ/2) ，以計算得出被測面的平面度；

    2.  平晶放在被測量面上時，應使平晶工作面與被測量面間有一個楔角，這樣就不會出現(xiàn)你談及的“是一會有條紋，一會沒有，條紋也是一會多、窄，一會少、寬”了。另外，此測量過程的時間不宜過長，否則，手溫對平晶的影響是很大的（必須戴手套），另外在測量時，盡量避免平晶在被測平面上反復接觸移動，以免劃傷平晶工作面。

   3.  某位帖子中所談及的“以出現(xiàn)3條左右干涉條紋時估讀條紋彎曲量與條紋間距的比值為最佳”，這是明顯錯誤的說辭。這瞎講一氣的“左右”，必然包括了2條或4條，而正確的干涉條紋數(shù)量應為“3或5條”，也就是只能為3條或者5條（奇數(shù)），不可以有4條（不能描述為3～5條，或2條），以保證中間干涉條紋通過被測平面的最大直徑，所以，測量過程的文字描述是非常嚴謹?shù)?，容不得某些人的信口開河。

   4.   被測平面平面度的凹凸評定，11樓談論的是正確的，你可以慢慢理解、體會。

        個人看法，僅供參考。

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v為干涉帶彎曲量，ω為干涉帶間的間距，間距肯定是用長度單位，請問彎曲量是用長度單位還是弧度單位？

回復 16# hblgs2004


    彎曲量是干涉帶彎曲的程度，是瞄準其兩個位置的估計量（或讀數(shù)差），怎么會是弧度單位呢？

敲敲打打 發(fā)表于 2014-6-21 19:23
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請問一下這本是什么書名？，能否分享一下這張清晰圖片，圖片不清晰