直接電位分析法的定位校準(zhǔn)和斜率校準(zhǔn)

黃淑英[1] 林竹光[2] 等
[1]廈門市衛(wèi)生防疫站，廈門361004 [2]廈門大學(xué)化學(xué)系，現(xiàn)代分析科學(xué)教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室，廈門361005
摘　要:本文闡述了直接電位分析法定位和斜率校準(zhǔn)的理論與測(cè)量原理。Eemf^-pM標(biāo)準(zhǔn)曲線法不必考慮定位和斜率校準(zhǔn)問(wèn)題；單點(diǎn)定位pMx直讀法，只進(jìn)行定位校準(zhǔn)，沒(méi)有完全校正電極理論與實(shí)際斜率不一致所產(chǎn)生的測(cè)量誤差，雙點(diǎn)定位pMx直讀法在pMs1-pMs2之間同時(shí)進(jìn)行定位與斜率校準(zhǔn)，測(cè)量的相對(duì)誤差較小。