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發(fā)布時(shí)間: 2012-10-10 08:31
正文摘要:我們公司現(xiàn)在在研發(fā)一款陽(yáng)極鉬片 產(chǎn)品平行度要求5um 平面度要求3um 使用一般精度三次元可以滿足嗎? 諸位可否幫忙提供下可以測(cè)量?jī)x器的型號(hào)或品牌,如果能夠有聯(lián)系方式那就更完美了, 謝謝! ... |
| 用接觸式干涉儀進(jìn)行測(cè)量 |
| 這是什么零件?這么薄,但是平面度和平行度的要求這么高,很容易變形的,從設(shè)計(jì)的角度來(lái)說(shuō)也不合理呢。 |
| 被測(cè)件太薄了,安裝方法和測(cè)量力都會(huì)造成彎曲變形,因此就應(yīng)該用檢塞尺的方法來(lái)檢測(cè)這個(gè)被測(cè)件。所以我非常贊成4樓yj407 版主和8樓zhx730621 量友的意見,最簡(jiǎn)單的方法是使用立式光學(xué)計(jì)檢測(cè)。 |
| 不適合,用光學(xué)測(cè)量較合適 |
| 薄形工件使用坐標(biāo)機(jī)測(cè)量不太合適,用光學(xué)計(jì)小測(cè)力進(jìn)行測(cè)量合適 |
| 樓主是哪里人?自己檢不方便的話可以送我院(遼寧省計(jì)量院)檢測(cè)。 |
| 一般三坐標(biāo)的不確定度會(huì)在4~5um,測(cè)量能力不能滿足要求 |
| 不行了,精度太高了 |
| 精度太高了,一般精度的三座標(biāo)精度是不夠的。可以用如果板子不大的話,可以用立試光學(xué)計(jì)去測(cè)量,或精度在1um以內(nèi)的電子高度規(guī)去測(cè)。 |
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