標(biāo)題: ASTM F 1662-2004 薄膜開關(guān)的不導(dǎo)電耐電壓的確定的試驗(yàn)方法 [打印本頁] 作者: 兌水 時(shí)間: 2009-12-1 21:15 標(biāo)題: ASTM F 1662-2004 薄膜開關(guān)的不導(dǎo)電耐電壓的確定的試驗(yàn)方法 F1662-04 Standard Test Method for Verifying the Specified Dielectric Withstand Voltage and Determining the Dielectric Breakdown Voltage of a Membrane Switch
